Сканирующая зондовая микроскопия./Ильин, В.А.

Сканирующая зондовая микроскопия./Ильин, В.А.

http://elib.wku.edu.kz/en/lib/document/STAT2/BE775E6A-3990-44EF-B171-004411D68966/

22.3
И 43
Ильин, В. А.
    Сканирующая зондовая микроскопия. [Текст] / В. А. Ильин, В. В. Кудрявцев, Т. А. Ширина // Физика в школе. - 2016. - №6. - С. 3-13
ББК 22.3

Рубрики: Физика

Кл.слова (ненормированные):
туннельный эффект -- сканирующий туннельный микроскоп -- квантовый загон -- атомно- силовой микроскоп -- кантилевер -- магнитно-силовой микроскоп -- растровый термический микроскоп -- ближнепольный оптический микроскоп
Аннотация: Расмотрены устройство и принцип действия сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомно-силового микроскопа (АСМ). Описаны эксперименты по манипуляции атомами, выполненные с помощью СТМ. Обсуждаются преимущества и недостатки СТМ, области применения СТМ и АСМ. Рассказано о других типах сканирующих зондовых микроскопов.
Держатели документа:
ЗКГУ
Доп.точки доступа:
Кудрявцев, В.В.
Ширина, Т.А.

QR code of document